XPS(X射線光電子能譜)的原理是用X射線去輻射樣品，使原子或分子的內層電子或價電子受激發射出來。被光子激發出來的電子稱為光電子?？梢詼y量光電子的能量，以光電子的動能為橫坐標，相對強度(脈沖/s)為縱坐標可做出光電子能譜圖。從而獲得試樣有關信息。X射線光電子能譜因對化學分析最有用，因此被稱為化學分析用電子能譜(Electron Spectroscopy for Chemical Analysis)。
其主要應用：
1.元素的定性分析?？梢愿鶕茏V圖中出現的特征譜線的位置鑒定除H、He以外的所有元素。
2.元素的定量分析。根據能譜圖中光電子譜線強度(光電子峰的面積)反應原子的含量或相對濃度。
3.固體表面分析。包括表面的化學組成或元素組成，原子價態，表面能態分布，測定表面電子的電子云分布和能級結構等。
4.化合物的結構。可以對內層電子結合能的化學位移精確測量，提供化學鍵和電荷分布方面的信息。
5.分子生物學中的應用。Ex：利用XPS鑒定維生素B12中的少量的Co。 XPS采用能量為 的射線源，能激發內層 電子。各種元素內層電子的結合能是有特征性的，因 此可以用來鑒別化學元素。 eV1500~1000
XRD以X射線的相關散射為基礎，以布拉格公式2d sinθ=nλ、晶體理論、倒易點陣厄瓦爾德圖解為主要原理的。 衍射基本條件是：1、層面間距與輻射波長的整數倍;2、散射中心空間分布規則
主要測定：晶體的結構信息。其主要方法包括X射線多晶粉末衍射法和單晶衍射法兩種。
其主要應用：
1.晶體的結構分析。由布拉格公式，已知波長λ，測出θ角，可以計算晶面間距d。
2.已知d值，測出θ角計算出特征輻射波長，確定樣品中所含的元素。
3.可以測定粒子大小。根據譜線寬度，結合計算公式，求出平均晶粒的大小。
4.還可以研究化學鍵和結構與性能關系等性質。
中企檢測認證網提供iso體系認證機構查詢，檢驗檢測、認證認可、資質資格、計量校準、知識產權貫標一站式行業企業服務平臺。中企檢測認證網為檢測行業相關檢驗、檢測、認證、計量、校準機構，儀器設備、耗材、配件、試劑、標準品供應商，法規咨詢、標準服務、實驗室軟件提供商提供包括品牌宣傳、產品展示、技術交流、新品推薦等全方位推廣服務。這個問題就給大家解答到這里了，如還需要了解更多專業性問題可以撥打中企檢測認證網在線客服13550333441。為您提供全面檢測、認證、商標、專利、知識產權、版權法律法規知識資訊，包括商標注冊、食品檢測、第三方檢測機構、網絡信息技術檢測、環境檢測、管理體系認證、服務體系認證、產品認證、版權登記、專利申請、知識產權、檢測法、認證標準等信息，中企檢測認證網為檢測認證商標專利從業者提供多種檢測、認證、知識產權、版權、商標、專利的轉讓代理查詢法律法規，咨詢輔導等知識。
本文內容整合網站：百度百科、搜狗百科、360百科、知乎、市場監督總局 、國家認證認可監督管理委員會、質量認證中心
免責聲明：本文部分內容根據網絡信息整理，文章版權歸原作者所有。向原作者致敬！發布旨在積善利他，如涉及作品內容、版權和其它問題，請跟我們聯系刪除并致歉！
