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信號完整性測試,關(guān)于電平信號的介紹

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最后更新: 2020-11-16 01:54
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公司基本資料信息






詳細(xì)說明

信號電平簡述

信號質(zhì)量涉及到的幾個(gè)概念

波形周期:對于重復(fù)性的波形,相鄰兩個(gè)重復(fù)波形間的間隔時(shí)間,定義為波形周期,其倒數(shù)為波形頻率。

波形寬度:波形電壓上升到波形幅度的50%起到波形電壓下降到波形幅度的50%止的時(shí)間。

上升時(shí)間:波形電壓從波形幅度的10%上升到90%所需要的時(shí)間。

下降時(shí)間:波形電壓從波形幅度的90%下降到10%所需要的時(shí)間。

占空比:指波形寬度占周期的比例,例如方波的占空比為50%。

高電平:為一個(gè)閥值,當(dāng)信號電平超過此值時(shí),會(huì)被認(rèn)為為高,也就是‘1’,在應(yīng)用中,有輸入輸出之分。

低電平:為一個(gè)閥值,當(dāng)信號電平低過此值時(shí),會(huì)被認(rèn)為為低,也就是‘0’,在應(yīng)用中也有輸入輸出之分。

輸入高電平(VIH ):保證邏輯門的輸入為高電平時(shí)所允許的小輸入高電平,當(dāng)輸入電平 高于 VIH時(shí),則認(rèn)為輸入電平為高電平。

輸入低電平 (VIL ):保證邏輯門的輸入為低電平時(shí)所允許的大輸入低電平,當(dāng)輸入電平 低于 VIL時(shí),則認(rèn)為輸入電平為低電平。

輸出高電平 (VOH):保證邏輯門的輸出為高電平時(shí)的輸出電平的小值,邏輯門的輸出為 高電平時(shí)的電平值都必須大于此 VOH。

輸出低電平 (VOL):保證邏輯門的輸出為低電平時(shí)的輸出電平的大值,邏輯門的輸出為 低電平時(shí)的電平值都必須小于此 VOL。

閥值電平 (VT):數(shù)字電路芯片都存在一個(gè)閾值電平,就是電路剛剛勉強(qiáng)能翻轉(zhuǎn)作時(shí)的 電平。 它是一個(gè)界于 VIL、VIH之間的電壓值。 對于 CMOS電路的閾值電平,基本上是二分之一的電源電壓值。但要保證穩(wěn)定的輸出,則必 須要求輸入高電平 >VIH ,輸入低電平 <VIL,而如果輸入電平在閾值 上下,也就是 VIL~VIH這個(gè)區(qū)域,電路的輸出會(huì)處于不穩(wěn)定狀態(tài)。


北京淼森波信息技術(shù)有限公司主要提供高速電路測試服務(wù),測試團(tuán)隊(duì)擁有10年以上硬件開發(fā)測試經(jīng)驗(yàn)。

高速電路測試服務(wù)項(xiàng)目有:

①SI信號完整性測試,主要內(nèi)容是電源上電時(shí)序、復(fù)位、時(shí)鐘、I2C、SPI、Flash、DDR、JTAG接口、CPLD接口測試、URAT測試、網(wǎng)口測試、USB2.0/USB3.0測試、MIPI測試、HDMI測試、及板卡上其它芯片接口的信號測試。

②PI電源完整性測試,主要內(nèi)容是電源的電壓值(精度)、電源噪聲/紋波、電壓上下波形、測量緩啟動(dòng)電路參數(shù)、電源電流和沖擊電流、電源告警信號、冗余電源的均流參數(shù)。

③ 接口一致性測試,主要有以太網(wǎng)、USB2.0、USB3.0、MIPI、HDMI、SATA、DisplayPort、PCIE。

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