信號質量測試結果分析注意事項

1）對設計缺陷的窄脈沖（如邏輯設計缺陷）等，不屬于信號質量要求范圍，而 屬于設計錯誤，必須進行更正；

2）參照信號的用途，分析信號質量對單板的影響。 一些情況下差的信號質量不一定會對系統造成影響的，不能單純參照指標。比如數據、地址線是電平有效信號，并且通常在讀寫控制信號的上升 /下降采樣，邊沿處信號質量 對系統影響不大。因此在選擇我們關注的測試指標時要按需求選擇。但是也應當指出，邊沿處的過沖雖然對系統的功能實現可能沒有影響，可是會對器件的壽命造成不良影 響。

3）酌情考慮輸入信號的過沖對器件的影響，視器件本身的設計，工藝而定。 現在的 CMOS工藝的輸入電平可達0～7V，所以高電平過沖對器件的影響較小，主要應該關注低電平過沖。器件功能出現異常可能不僅與低電平過沖的幅度有關，還與低電平過 沖的時間寬度有關。對CMOS器件尤其要注意其低電平過沖的影響，可能造成閂鎖現象。對于不同的器件，對低電平要求應符合廠家規定的 absolutemaximum rating 的要求。

4）信號波形不標準時可能是該信號處于三態，或單板在此時并不使用該信號， 對此類信號要注意分析此信號是否為有效期間，如果在無效期間可視其為正常信號。

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高速電路測試服務項目有：

①SI信號完整性測試，主要內容是電源上電時序、復位、時鐘、I2C、SPI、Flash、DDR、JTAG接口、CPLD接口測試、URAT測試、網口測試、USB2.0/USB3.0測試、MIPI測試、HDMI測試、及板卡上其它芯片接口的信號測試。

②PI電源完整性測試，主要內容是電源的電壓值（精度）、電源噪聲/紋波、電壓上下波形、測量緩啟動電路參數、電源電流和沖擊電流、電源告警信號、冗余電源的均流參數。

③ 接口一致性測試，主要有以太網、USB2.0、USB3.0、MIPI、HDMI、SATA、DisplayPort、PCIE。

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