ISO10110系列國際標準
ISO 10110 是一系列用于光學加工與檢驗、光學元件及系統的技術圖紙繪制及其技術要求的國際標準。 該標準始于 1979 年，由 ISO/TC172/SCI/WG2 起草，并于 1996 及 1997 年分兩部分內容正式頒布實施。ISO 10110 的基礎來自于德國標準 DIN 3140.但起草專家組成員在光干涉術、表面計量術以及激光技術等領域賦予了許多新的內容。
ISO 10110 系列標準包含多個部分，每部分針對光學元件和系統的不同方面進行了詳細規定。以下是一些主要部分的內容概述：
ISO 10110-1：概述
提供了 ISO 10110 系列標準的總體介紹和框架。
ISO 10110-2：光學材料缺陷應力雙折射
規定了光學材料中應力雙折射的允許值及其測量方法。
ISO 10110-3：光學材料缺陷氣泡與雜質
定義了光學材料中氣泡和雜質的分類、允許數量及尺寸等要求。
ISO 10110-4：光學材料缺陷非均勻性與條紋
描述了光學材料中非均勻性和條紋的評估方法及允許范圍。
ISO 10110-5：面形偏差
規定了光學元件表面形狀偏差的公差要求，包括弧矢差、不規則度、旋轉對稱不規則度等參數的測量和計算方法。
ISO 10110-6：中心偏差
定義了光學元件中心偏差的允許范圍及其測量方法，包括基準點、線量形式表達的中心誤差等。
ISO 10110-7：表面缺陷偏差
規定了光學元件表面缺陷(如劃痕、麻點、破邊等)的允許數量、尺寸及評估方法。
ISO 10110-8：表面微觀輪廓
描述了光學元件表面微觀輪廓的測量和評估方法，包括粗糙度、波紋度等參數。
ISO 10110-9：表面處理和鍍膜
規定了光學元件表面處理和鍍膜的要求，包括鍍膜材料、厚度、均勻性等方面的規定。
ISO 10110-10：元件技術要求的格式
提供了光學元件技術要求在圖紙上的表示方法和格式要求。
ISO 10110-11：非公差數據
定義了光學元件圖紙中非公差數據的表示方法和要求。
ISO 10110-12：非球面
規定了非球面光學元件的設計、制造和檢驗要求。
ISO 10110-13：激光輻射破壞閾值
定義了光學元件在激光輻射下的破壞閾值及其測量方法。
ISO 10110 系列標準為光學元件和系統的制造、檢驗及質量控制提供了全面、詳細的技術規范，對于確保光學產品的質量和性能具有重要意義。
中企檢測認證網提供iso體系認證機構查詢，檢驗檢測、認證認可、資質資格、計量校準、知識產權貫標一站式行業企業服務平臺。中企檢測認證網為檢測行業相關檢驗、檢測、認證、計量、校準機構，儀器設備、耗材、配件、試劑、標準品供應商，法規咨詢、標準服務、實驗室軟件提供商提供包括品牌宣傳、產品展示、技術交流、新品推薦等全方位推廣服務。這個問題就給大家解答到這里了，如還需要了解更多專業性問題可以撥打中企檢測認證網在線客服13550333441。為您提供全面檢測、認證、商標、專利、知識產權、版權法律法規知識資訊，包括商標注冊、食品檢測、第三方檢測機構、網絡信息技術檢測、環境檢測、管理體系認證、服務體系認證、產品認證、版權登記、專利申請、知識產權、檢測法、認證標準等信息，中企檢測認證網為檢測認證商標專利從業者提供多種檢測、認證、知識產權、版權、商標、專利的轉讓代理查詢法律法規，咨詢輔導等知識。
本文內容整合網站：百度百科、搜狗百科、360百科、知乎、市場監督總局 、國家認證認可監督管理委員會、質量認證中心
免責聲明：本文部分內容根據網絡信息整理，文章版權歸原作者所有。向原作者致敬！發布旨在積善利他，如涉及作品內容、版權和其它問題，請跟我們聯系刪除并致歉！
